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- production, caractér... (Competence)
CENTRE DES LASERS INTENSES ET APPLICATIONS PLASMAS

- imagerie X

- métrologie ultrarapide

- caractérisation de cristaux pour la spectroscopie X

- spectromètre X-UV

- photomultiplicateur à forte résolution temporelle (dissecteur)

Laser Ti :Saphir 1kHz, 1TW

- Laser 100 Hz, 10TW

- Matériels de caractérisation du rayonnement et de détection de particules (spectromètre, caméra CCD …)

- Réseau et équipement interne en stations de calcul

- Centres informatiques de l'Université de Bordeaux I (DRIMM)

- Centres informatiques Nationaux

Caractérisation, essais, tests, contrôles, formulation , Conseil, expertise, formation
Electronique, Télécommunication , Informatique, TIC , Santé, Pharmacie, Bio industrie , AUTRE
PARNEIX Jean-Paul
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11. Avr 2007